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申请/专利权人：航天科工(长沙)新材料研究院有限公司
摘要：本发明涉及一种超声探伤检测方法，系统性的提出了一种采用高频双晶直探头纵波探伤方法，采用双晶高频探头检测，并采用单晶直探头进行传输修正补偿，两种探头的结合使用能明显提升检测准确率；还进一步根据产品尺寸和检测效果，对双晶直探头焦距和尺寸作出相应的选择，有助于技术人员快速响应检测，提高效率，保证检测结果的稳定性。本发明采用单晶直探头对近场区采用不等厚试块进行传输修正测定，并原创性的提出了近场区采用单晶直探头测定传输修正补偿方法，有利于减小双晶直接测定时聚焦的影响，正确评价材质衰减，保证传输修正补偿的可靠性。
主权项：1.一种超声探伤检测方法，采用接触式超声纵波直射法，其特征在于，包括以下步骤：S1、探伤探头的选择：探头采用双晶直探头和单晶直探头；S2、探伤试块的设计；S3、探伤参数的调节及建立；S4、传输修正补偿确定：试块与受检件等厚时，用单晶直探头测定试块上一次底波反射信号达到基准波高时的增益值V1，测定受检件上达到基准波高时的增益值V2，则传输修正值ΔdB为V2和V1的差值；试块厚度h1与受检件厚度h2不等时，用单晶直探头分别测定试块和受检件一次底波反射信号达到基准波高时的增益值V1、V2，由h1、h2、V1和V2计算得到衰减系数α，再由h1、h2和α得到传输修正值ΔdB；S5、采用双晶直探头进行扫查检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 航天科工(长沙)新材料研究院有限公司 一种超声探伤检测方法
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