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一种半导体结构及其形成方法 

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申请/专利权人:芯联集成电路制造股份有限公司

摘要:本发明提供一种半导体结构及其形成方法,所述半导体结构包括:衬底;层间介质层,覆盖衬底;接触孔,自层间介质层的表面延伸至伸入衬底内;第一粘合层,覆盖接触孔的底壁及侧壁;导电插塞,填充接触孔;第二粘合层,形成于层间介质层及导电插塞的表面,第二粘合层的硬度大于第一粘合层的硬度;以及,金属电极层,覆盖第二粘合层。利用第二粘合层作为金属电极层与层间介质层之间的结合层,由于第二粘合层的硬度大于第一粘合层的硬度,可有效阻隔金属电极层对衬底的影响,因此可以提高打线强度,同时,在形成第二粘合层时,先去除层间介质层上的第一粘合层,第二粘合层不会因与第一粘合层之间结合力差而容易剥落,由此可以保证器件性能。

主权项:1.一种半导体结构的形成方法,其特征在于,包括:提供一衬底,并在所述衬底上形成层间介质层;刻蚀所述层间介质层及所述衬底并停止在所述衬底内以形成接触孔;形成第一粘合层,所述第一粘合层覆盖所述接触孔的底壁及侧壁,并延伸至覆盖所述衬底的表面;在所述接触孔中填充导电材料,以形成导电插塞;刻蚀去除所述层间介质层表面的所述第一粘合层;形成第二粘合层,所述第二粘合层覆盖所述层间介质层的表面及所述导电插塞,所述第二粘合层的硬度大于所述第一粘合层的硬度;沉积金属电极材料,所述金属电极材料覆盖所述第二粘合层的表面;以及,刻蚀所述金属电极材料以形成金属电极层,以及刻蚀去除暴露出的所述第二粘合层。

全文数据:

权利要求:

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