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申请/专利权人：浙江流流电子科技有限公司

摘要：本发明涉及超低压电源供电数据分析技术领域，尤其涉及一种超低压电源电压芯片串联供电分析方法及系统，本发明将当前供电状态数据导入根据历史供电数据构建的超低压电源供电状态模型中对超低压电源在当前评估周期内的供电状态进行评估；将当前工作状态数据导入根据历史工作数据构建的芯片工作状态模型中对与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的工作状态进行评估；根据供电状态评估结果和工作状态评估结果，对未来评估周期内的各超低压电源的供电损耗进行预测；根据供电损耗预测结果，对各超低压电源进行供电分配。能够平衡供电电路上各个芯片的负载、提高供电系统的稳定性和可靠性。

主权项：1.一种超低压电源电压芯片串联供电分析方法，其特征在于，包括下述步骤：S1、获取超低压电源供电电路中各超低压电源的历史供电数据和当前供电状态数据，同时获取与各超低压电源进行串联的对应芯片的历史工作数据和当前工作状态数据；S2、根据历史供电数据构建超低压电源供电状态模型，将当前供电状态数据导入超低压电源供电状态模型中对超低压电源在当前评估周期内的供电状态进行评估；S3、根据历史工作数据构建芯片工作状态模型，将当前工作状态数据导入芯片工作状态模型中对与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的工作状态进行评估；S4、根据超低压电源的供电状态评估结果和与超低压电源进行串联的对应芯片的工作状态评估结果，对未来评估周期内的各超低压电源的供电损耗进行预测；S5、根据各超低压电源的供电损耗预测结果，对各超低压电源进行供电分配；所述步骤S2包括以下具体步骤：S21、获取超低压电源供电电路中各超低压电源的历史供电数据和当前供电状态数据；S22、将历史供电数据和当前供电状态数据代入供电状态系数计算公式中计算超低压电源在当前评估周期内的供电状态系数；所述供电状态系数计算公式为： ；式中Gd为超低压电源在当前评估周期内的供电状态系数，d为当前供电状态数据中超低压电源在当前评估周期内的断电次数，U为当前供电状态数据中超低压电源在当前评估周期内的平均电压，Ue表示超低压电源的额定电压，T表示当前供电状态数据中超低压电源在当前评估周期内的平均运行温度，Tmax、Tmin分别表示超低压电源安全运行温度范围的最高温度、最低温度，表示历史供电数据中超低压电源在第i个评估周期内的断电次数，表示历史供电数据中超低压电源在第i个评估周期内的平均电压，n表示评估周期个数，i为1至n中任一项，exp为以自然常数e为底的指数函数，ln为以自然常数e为底的对数函数；所述步骤S3包括以下具体步骤：S31、获取与各超低压电源进行串联的对应芯片的历史工作数据和当前工作状态数据；S32、将历史工作数据和当前工作状态数据代入工作状态系数计算公式中计算与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的工作状态系数，所述工作状态系数计算公式为： ；式中Wk表示与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的工作状态系数，Iw表示当前工作状态数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的平均工作电流，Uo表示当前工作状态数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的平均工作电压，Uomax、Uomin分别表示与超低压电源进行串联的对应芯片的额定工作电压范围的上限、下限，Tx表示当前工作状态数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的平均工作温度，Txmax、Txmin分别表示与超低压电源进行串联的对应芯片正常运行温度范围的最高温度、最低温度，P表示当前工作状态数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在当前评估周期内的平均工作功率，表示历史工作数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在第i个评估周期内的平均工作电流，表示历史工作数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在第i个评估周期内的平均工作温度，表示历史工作数据中与超低压电源进行串联的对应芯片在第i个评估周期内的平均工作功率。

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