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申请/专利权人:苏州达亚电子有限公司
摘要:本实用新型公开了一种可调节式半导体检测用定位装置,属于检测设备技术领域。其主要针对现有产品的结构繁琐,且无法实现待测半导体旋转调整式检测的问题,提出如下技术方案,包括用于定位待测半导体的检测平台与用于实现半导体位移调整的线性位移机构,且线性位移机构与检测平台之间通过移动座进行连接,所述移动座上安装有用于检测平台旋转调整的转向调节组件,转向调节组件包括转轴,转轴上设置有棘轮。本实用新型通过删减底座及其内部的结构,进而优化产品结构,降低产品的制作成本,并辅以转向调节组件进而实现设置于检测平台的半导体能够根据实际的使用需求进行旋转角度的调整,进一步提高产品的实用性效果。
主权项:1.一种可调节式半导体检测用定位装置,包括用于定位待测半导体的检测平台3与用于实现半导体位移调整的线性位移机构1,且线性位移机构1与检测平台3之间通过移动座2进行连接,其特征在于:所述移动座2上安装有用于检测平台3旋转调整的转向调节组件4,转向调节组件4包括转轴,转轴上设置有棘轮41,棘轮41的侧边设有棘爪42与直板43,其中,棘爪42通过销轴连接于移动座2的顶部外壁上,且棘爪42与直板43之间连接有用于复位调整的弹簧44;所述检测平台3由平台主体31与夹持组件所构成,其中,平台主体31的底部固定连接于转轴的顶端,所述夹持组件包括螺纹杆33,螺纹杆33上螺纹连接有滑板34,滑板34上对称式活动连接有用于夹持半导体的夹板32。
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百度查询: 苏州达亚电子有限公司 一种可调节式半导体检测用定位装置
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