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SONOS存储器及其制造方法和使用方法 

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申请/专利权人:上海华力集成电路制造有限公司

摘要:本发明公开了一种SONOS存储器及其制造方法和使用方法,所述SONOS存储器,包括形成于硅衬底上的存储单元管和选择管,其存储单元管和选择管的栅介质层为ONO层;ONO层由依次形成于硅衬底表面的氧化硅,氮化硅,氧化硅组成。本发明利用现有的制作工艺无需额外开发工艺以及额外光罩,在刻蚀0N0层是主动保留选择管区域的ONO层作为栅介质层,通过上述结构改进,在基于需求对SONOS通过对ONO进行写入动作或擦除动作时间改变,进而改变选择管电容VT,实现选择管电容工作电压变化。

主权项:1.一种SONOS存储器,包括形成于硅衬底上的存储单元管和选择管,其特征在于:存储单元管和选择管的栅介质层为ONO层;ONO层由依次形成于硅衬底表面的氧化硅,氮化硅,氧化硅组成。

全文数据:

权利要求:

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