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申请/专利权人:重庆平创半导体研究院有限责任公司
摘要:本发明涉及功率半导体技术领域,具体公开了一种分立式功率半导体器件封装结构,包括:半导体芯片、金属引线框架,还包括门极键合线、异形金属引脚、塑封体、第一电热金属连接件、第二电热金属连接件和DCB;半导体芯片焊接在金属引线框架上;第一电热金属连接件焊接在半导体芯片上;第二电热金属连接件焊接在异形金属引脚上;电路刻蚀层焊接在第一电热金属连接件和第二电热金属连接件上;门极键合线分别连接第一电热金属连接件和第二电热金属连接件。采用本发明的技术方案能够实现双面散热,可适用于650V以上的高压应用工况,尤其适用于碳化硅芯片的封装。
主权项:1.一种分立式功率半导体器件封装结构,包括半导体芯片、金属引线框架,其特征在于,还包括门极键合线、金属引脚、塑封体、第一电热金属连接件、第二电热金属连接件和DCB;DCB包括从下至上连接的电路刻蚀层、绝缘陶瓷层和顶部焊接层;半导体芯片焊接在金属引线框架上;第一电热金属连接件焊接在半导体芯片上;第二电热金属连接件焊接在金属引脚上;电路刻蚀层焊接在第一电热金属连接件和第二电热金属连接件上;门极键合线分别连接第一电热金属连接件和第二电热金属连接件;塑封体用于将半导体芯片、金属引线框架、金属引脚、第一电热金属连接件、第二电热金属连接件和DCB封装固定。
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