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一种大功率半导体激光器晶圆P面电镀金的方法 

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申请/专利权人:山东华光光电子股份有限公司

摘要:本发明涉及一种大功率半导体激光器晶圆P面电镀金的方法,属于大功率半导体激光器电镀金电极技术领域。本发明的大功率半导体激光器的待镀金区域为薄金种子层,非镀金区域保留部分光刻胶绝缘层,去除光刻胶部分设计有TiPtAu导电桥,有利于晶圆电镀时垂直方向和水平方向的电流为通路,避免了稳流电镀时,电镀电压增大,烧蚀光刻胶现象,从而提高了镀层良率;同时,此方法非镀金区去除光刻胶部分设计有边缘到中间逐渐增多的TiPtAu导电桥,有利于缩小整个晶圆不同区域的电镀电流密度差,从而将镀层均匀性稳定在8%内,有利于大功率半导体激光器的焊线封装。

主权项:1.一种大功率半导体激光器晶圆P面电镀金的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:采用电子束蒸发工艺,在半导体激光器晶圆表面蒸镀薄金种子层;S2:在步骤S1的中的薄金种子层上,采用PECVD沉积的SiO2绝缘层,采用BOE腐蚀液腐蚀去除电流注入区、圆环电极区和水平导电桥区的薄金种子层上的SiO2绝缘层,暴露出电流注入区、圆环电极区和水平导电桥区的薄金种子层;S3:在步骤S2的晶圆上旋涂一层光刻胶,并进行曝光、显影、去胶,暴露出晶圆边缘圆环电极区的薄金种子层,即圆环电极,暴露出电流注入区的薄金种子层,以及在晶圆内部的水平导电桥区,保留部分光刻胶,暴露出薄金种子层形成水平导电桥;S4:采用电镀工艺对经过步骤S3处理的晶圆表面电镀金,在电流注入区和水平导电桥上形成电镀厚金层,非镀金区上裸露光刻胶。

全文数据:

权利要求:

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