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一种AXI总线测试激励源及其芯片功能验证方法 

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申请/专利权人:西安芯云半导体技术有限公司

摘要:本发明公开一种AXI总线测试激励源及其芯片功能验证方法,涉及仿真测试领域,测试激励源的参数配置模块进行参数配置,并在完成参数配置后触发写操作开始信号和读操作开始信号;写操作模块在接收到写操作开始信号,并检测到存在未被占用状态的写操作ID后,为本次写操作分配目标写ID,将目标写ID更改为占用状态,并依据获取的本次写操作的目标写地址和目标写ID将本次写操作的写入数据发送至目标被测器件;读操作模块依据获取的本次读操作的目标读地址和目标读ID从目标被测器件中读取对应的写入数据,在本次读操作结束后,根据读取的写入数据与预设写入值进行数据正确性校验。本发明能提供outstanding1的测试激励,从而满足高吞吐量和数据校验的验证需求。

主权项:1.一种AXI总线测试激励源,其特征在于,包括参数配置模块、写操作模块以及读操作模块;所述参数配置模块用于根据接收到的配置参数对所述写操作模块和所述读操作模块进行参数配置,并在完成所述参数配置后对应触发写操作开始信号和读操作开始信号;所述写操作模块用于在接收到所述写操作开始信号,并检测到存在未被占用状态的写操作ID后,为本次写操作分配目标写ID,将所述目标写ID更改为占用状态,并依据获取的本次写操作的目标写地址和所述目标写ID将本次写操作的写入数据发送至目标被测器件,在本次写操作结束后将所述目标写ID更改回未被占用状态;所述读操作模块用于在接收到所述读操作开始信号,并在检测到存在未被占用状态的读操作ID后,为本次读操作分配目标读ID,将所述目标读ID更改为占用状态,并依据获取的本次读操作的目标读地址和所述目标读ID从所述目标被测器件中读取对应的写入数据,在本次读操作结束后将所述目标读ID更改回未被占用状态;所述读操作模块还用于在本次读操作结束后,根据读取的所述写入数据与预设写入值进行数据正确性校验。

全文数据:

权利要求:

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