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摘要:本发明提供了一种熔丝器件及形成方法,包括:P型衬底;位于P型衬底内的N型轻掺杂区,N型轻掺杂区的表面与P型衬底的表面齐平;以及位于N型轻掺杂区表面的导电材料层,导电材料层包括阳极区域、阴极区域和熔丝区域,熔丝区域位于阳极区域和阴极区域之间,阴极区域下方的N型轻掺杂区内形成有P型重掺杂区。本发明的P型衬底、N型轻掺杂区、导电材料层和P型重掺杂区可以通过形成CMOS器件的逻辑工艺中的掩膜形成,所以在28nm半导体工艺之后,仍然兼容了逻辑工艺制程。
主权项:1.一种熔丝器件,其特征在于,包括:P型衬底;位于所述P型衬底内的N型轻掺杂区,所述N型轻掺杂区的表面与所述P型衬底的表面齐平;以及位于所述N型轻掺杂区表面的导电材料层,所述导电材料层包括阳极区域、阴极区域和熔丝区域,所述熔丝区域位于所述阳极区域和阴极区域之间,所述阴极区域下方的N型轻掺杂区内形成有P型重掺杂区。
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