买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：重庆大学

摘要：本发明公开一种考虑铁素体析出及再奥氏体化的奥氏体晶粒尺寸分布预测方法，涉及奥氏体晶粒尺寸分布预测技术领域，方法包括以下步骤：在高温膨胀实验的基础上，采用分峰和峰面积处理，构建了不同温度下铁素体析出相分数的量化计算方法；通过高温淬火实验与显微组织表征结合，掌握铸坯热回弹过程显微组织的演变规律，获取初始奥氏体晶粒尺寸分布；理论推导考虑铁素体析出及再奥氏体化的奥氏体晶粒尺寸分布预测的计算方法；预测不同热回弹条件下奥氏体晶粒尺寸分布的预测。本发明为钢铁连铸及热送热装工艺过程中铸坯奥氏体晶粒尺寸分布的准确、快速预测提供了切实可行的方案，适用于经历双相变、多相变的铸造过程，具有较强的普适性和参考价值。

主权项：1.一种考虑铁素体析出及再奥氏体化的奥氏体晶粒尺寸分布预测方法，其特征在于，包括：步骤1：样品获取及样品加工在铸坯柱状晶及等轴晶区域平行于浇注方向取样；根据高温膨胀仪的要求，高温膨胀实验的样品加工成圆柱形；根据热力模拟试验机的要求，高温淬火实验的样品加工成两端带有螺纹的圆棒形；步骤2：高温膨胀实验通过高温膨胀仪对铸坯样品进行高温膨胀实验，在连续降温至室温的过程中，实时记录试样在不同温度下的长度变化，得到样品的膨胀曲线；步骤3：基于高温膨胀行为的铁素体析出相分数的量化计算将步骤2所述膨胀曲线转化为线性热膨胀系数曲线；采用高斯函数对所述线性热膨胀系数曲线进行分峰处理，获得代表奥氏体向铁素体转变的铁素体转变独立峰I、奥氏体向珠光体转变的珠光体转变独立峰II；通过计算不同温度下铁素体转变独立峰I的峰面积与整个线性热膨胀系数曲线下基线和重叠峰之间的峰面积的比值，得到不同温度下铁素体析出的相分数的预测值；步骤4：铸坯热回弹过程显微组织的演变规律分析借助热力模拟实验机对样品进行高温淬火实验，降温过程淬火样品的淬火温度为Ttest，热回弹后淬火样品的热回弹温度为Treb.；采用腐蚀剂腐蚀，通过光学显微镜观察淬火试样的显微组织，分析铸坯热回弹过程显微组织的演变规律；步骤5：初始奥氏体晶粒尺寸分布的获取对铸坯样品进行高温淬火实验，得到初始奥氏体晶粒尺寸分布的样品；采用腐蚀剂腐蚀，通过光学显微镜观察淬火试样的显微组织，测量和统计奥氏体晶粒的尺寸，得到初始奥氏体晶粒尺寸的相对频率分布、平均尺寸和标准差；步骤6：考虑铁素体析出及再奥氏体化过程的奥氏体晶粒尺寸分布计算根据步骤4掌握的铸坯热回弹过程显微组织的演变规律，结合步骤5得到的初始奥氏体晶粒尺寸分布和步骤3得到的铁素体析出相分数预测值，进一步计算铸坯不同温度热回弹后的奥氏体晶粒的相对频率、平均尺寸和标准差的预测值；步骤7：不同热回弹条件下奥氏体晶粒尺寸分布的预测根据步骤6和步骤3，进一步得到热回弹后奥氏体晶粒的平均尺寸与铁素体析出相分数的变化关系，以及热回弹后奥氏体晶粒的平均尺寸与热回弹温度的变化关系；设置不同的初始奥氏体晶粒平均尺寸和铁素体析出相分数，根据步骤6所述方法，进一步预测不同初始奥氏体晶粒平均尺寸条件下热回弹后奥氏体晶粒的平均尺寸与铁素体析出相分数的变化关系、不同铁素体析出相分数条件下热回弹后奥氏体晶粒的平均尺寸与初始奥氏体晶粒平均尺寸的变化关系、热回弹前后奥氏体晶粒平均尺寸的比值与铁素体析出相分数的变化关系，根据预测结果，为生产实践提供参考和指导。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 重庆大学 考虑铁素体析出及再奥氏体化的奥氏体晶粒尺寸分布预测方法