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申请/专利权人：无锡市爱普达微电子有限公司
摘要：本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其是一种高检测准确度的集成电路测试装置，包括检测台，所述检测台上固定安装有检测器，所述检测台上设置有支撑块，所述支撑块的顶部固定安装有放置台，所述放置台上设置有集成电路本体，所述支撑块上设置有精准定位机构，所述精准定位机构包括多个固定安装在所述支撑块表面的固定框，所述固定框的内部活动安装有螺杆，所述固定框的一侧固定安装有与所述螺杆相连接的电机。本发明通过精准定位机构的设置，能够对放置在放置台上的集成电路本体进行自动定位，可取代人工调整定位的方式，对集成电路进行更加精准的定位调节，提升集成电路测试的准确性，提高测试的效率。
主权项：1.一种高检测准确度的集成电路测试装置，包括检测台（1），所述检测台（1）上固定安装有检测器（2），所述检测台（1）上设置有支撑块（3），所述支撑块（3）的顶部固定安装有放置台（4），所述放置台（4）上设置有集成电路本体（5），其特征在于：所述支撑块（3）上设置有精准定位机构（6），所述精准定位机构（6）包括多个固定安装在所述支撑块（3）表面的固定框（7），所述固定框（7）的内部活动安装有螺杆（8），所述固定框（7）的一侧固定安装有与所述螺杆（8）相连接的电机（9），所述螺杆（8）上活动安装有移动块（10），所述移动块（10）的顶部固定安装有矫正架（11）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡市爱普达微电子有限公司 一种高检测准确度的集成电路测试装置
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