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基于大数据的半导体测试控制方法及系统 

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申请/专利权人:常州满旺半导体科技有限公司

摘要:本发明提供基于大数据的半导体测试控制方法及系统,涉及测试技术领域,包括在测试设备上部署智能传感器和嵌入式设备,实时采集和传输测试数据,提取进行数据预处理后测试数据对应的测试特征;根据所述测试特征,以及所述测试设备已执行测试项目的结果数据构建状态空间;将所述测试设备对应的所有可选测试项目抽象为动作空间;确定状态转移概率函数;获取所述当前状态下执行所述动作空间中任一动作的即时奖励,构建奖励函数;基于所述状态空间、所述动作空间、所述状态转移概率以及所述奖励函数,构建测试控制决策模型;根据所述测试控制决策模型,通过改进的决策控制算法对所述测试控制决策模型进行求解,确定最优测试控制策略。

主权项:1.基于大数据的半导体测试控制方法,其特征在于,包括:在测试设备上部署智能传感器和嵌入式设备,实时采集和传输测试数据,并对所述测试数据进行数据预处理,提取进行数据预处理后测试数据对应的测试特征;根据所述测试特征,以及所述测试设备已执行测试项目的结果数据构建状态空间;将所述测试设备对应的所有可选测试项目抽象为动作空间;选定所述状态空间中任一状态作为当前状态,结合所述动作空间确定状态转移概率函数;获取所述当前状态下执行所述动作空间中任一动作的即时奖励,构建奖励函数;基于所述状态空间、所述动作空间、所述状态转移概率以及所述奖励函数,构建测试控制决策模型;根据所述测试控制决策模型,通过改进的决策控制算法对所述测试控制决策模型进行求解,确定最优测试控制策略,其中,所述改进的决策控制算法是在强化学习算法的基础上,结合优先级经验回放和Dueling网络结构构建得到的。

全文数据:

权利要求:

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