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具有第IVA族离子注入的MOSFET的结构与制造方法 

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申请/专利权人:黄智方

摘要:本发明揭露一种具有第IVA族离子注入的MOSFET的结构与制造方法,第IVA族离子注入层设置于基极之中,且第IVA族离子注入层接近于该栅极氧化层与该基极的交界面;其中,第IVA族离子注入层用来改变结构的一通道的性质。本发明提出的第IVA族离子注入的金属氧化物半导体场效应晶体管的结构与制造方法可用来改善栅极氧化层品质,提升场效电子迁移率。

主权项:1.一种具有第IVA族离子注入的碳化硅MOSFET的结构,其特征在于,包含:一基极;一栅极电极,该栅极电极与该基极之间具有一栅极氧化层;以及一第IVA族离子注入层,设置于该基极之中,且该第IVA族离子注入层接近于该栅极氧化层与该基极的交界面;其中,该第IVA族离子注入层用来改变该结构的一通道的性质;在栅极氧化层进行氧化前,向SiC层注入第IVA族离子,形成第IVA族元素离子注入层;该第IVA族离子注入层不设置于该栅极氧化层中。

全文数据:

权利要求:

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