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申请/专利权人：京东方华灿光电(浙江)有限公司
摘要：本公开提供了一种氮化镓半导体器件测试系统及方法。系统包括：数字测试电路、模拟测试电路、切换电路和上位机；上位机用于：获取测试参数和测试模式；基于测试模式，将测试参数编译为数字测试电路和模拟测试电路中对应的第一测试电路能够识别的测试指令；基于测试模式，控制切换电路选通第一测试电路；基于测试指令控制第一测试电路工作；接收第一测试电路反馈的测试结果，并将测试结果进行图形化显示。该系统能够实现测量参数设定、测试项生成、数据生成与分析、自动生成报告，测试电路反馈的测试结果通过监控程序自动上传到数据分析后台端，并将测试结果进行图形化显示在客户端，并生成报告供参考。
主权项：1.一种氮化镓半导体器件测试系统，其特征在于，所述系统包括：数字测试电路10、模拟测试电路20、切换电路30和上位机40，所述切换电路30分别与所述数字测试电路10、所述模拟测试电路20和所述上位机40电连接；所述数字测试电路10用于对所述氮化镓半导体器件进行数字测量；所述模拟测试电路20用于对所述氮化镓半导体器件进行模拟测量；所述上位机40用于：获取测试参数和测试模式；基于所述测试模式，将所述测试参数编译为所述数字测试电路10和所述模拟测试电路20中对应的第一测试电路能够识别的测试指令；基于所述测试模式，控制所述切换电路30选通所述第一测试电路；基于所述测试指令控制所述第一测试电路工作；接收所述第一测试电路反馈的测试结果，并将所述测试结果进行图形化显示。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 京东方华灿光电(浙江)有限公司 氮化镓半导体器件测试系统及方法
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